CMOS全譜——全元素分析解決方案

萬條譜線，全元素盡可展現

M5000可采集全譜信息，測量近萬條譜線，分析范圍廣，可用的分析靈敏線更多，能夠測定金屬分析行業(yè)需要分析的元素

與通道式光譜儀相比，M5000免除了選擇通道的煩惱，以更低的成本，獲取對更多元素的分析檢測能力

分析準，產品質量可靠

M5000可智能選擇合適的靈敏線進行分析，科學地避開相鄰元素干擾、高含量自吸等因素的影響，獲取更準確的分析結果

擴展性優(yōu)，助力企業(yè)升級

M5000的硬件設計支持全譜分析檢測，用戶可隨時在任意現場增加分析基體和元素，無需更改硬件便能擴展分析范圍

M5000方便實用的擴展性能更優(yōu)地滿足企業(yè)未來拓展業(yè)務范圍的需要，是企業(yè)靈活升級的得力助手

穩(wěn)定可靠，操作方便快捷

利用全譜豐富的譜線信息，M5000可運用背景扣除、干擾扣除、漂移校正等高級算法，從而更優(yōu)地監(jiān)控儀器運行狀態(tài)，提高了分析的準確性和儀器的穩(wěn)定性

同時智能校正技術取代了傳統的描跡校正，儀器操作簡單，方便易用，校正效果更優(yōu)

性能優(yōu)勢

智能可靠的全數字光源

可編程脈沖合成全數字光源，性能好，免維護

適用于激發(fā)各種合金材料，有利于提高分析精度

方便節(jié)能的樣品激發(fā)臺

開放式樣品激發(fā)臺，適于分析不同幾何形狀的大/小樣品

氬氣氣路優(yōu)化設計，使激發(fā)效果更好

氬氣節(jié)約模式，有效降低氬氣用量

安裝與維護簡單便捷

穩(wěn)定光學系統

帕型-龍格光學結構，多個高性能的CMOS探測器

可實時監(jiān)控的恒溫光室，使光學系統穩(wěn)定

雙光室設計

雙光室（紫外+可見）設計，同時使長短波元素分析性能令人滿意

獨立的紫外光學系統使儀器對碳、磷、硫、氮等短波元素的分析更準確

優(yōu)化設計

智能曲線

智能曲線功能，可滿足對基體內材料的分析需求

智能鏈接適當的曲線模型，獲得更準確的分析結果

實現未知樣品分析，無需糾結模型選擇，使操作更加簡便

質量判斷

根據用戶的測量標準，可自由設定元素成分質量控制的上下限

自動判斷樣品成分是否超標，結果一目了然

牌號識別

可對未知材質分類，幫助用戶快速鑒定樣品牌號

當量分析

可自由編輯碳當量、耐腐蝕當量公式，掌控材料特性

自動系統診斷

軟件界面實時呈現儀器運行狀態(tài)

準時提醒儀器維護與清理時間

產品選型